成像技術(shù)與時(shí)俱進(jìn)的創(chuàng)新發(fā)展，衍生出了很多先進(jìn)而成熟的技術(shù)，這對(duì)科學(xué)研究和行業(yè)發(fā)展無疑是極為有利的，即便是在材料科學(xué)的研究領(lǐng)域，同樣可以借助先進(jìn)的Micro CT技術(shù)設(shè)備，輕松實(shí)現(xiàn)無損3D的預(yù)期目標(biāo)。作為一種X射線成像技術(shù)，在材料科學(xué)研究工作中有著無可比擬的優(yōu)勢(shì)作用，能夠在具體研究工作中得到廣泛應(yīng)用，也直觀呈現(xiàn)出了顯著的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。雖然不同技術(shù)類型和設(shè)備功能存在差異，但只要能夠匹配相對(duì)應(yīng)的行業(yè)領(lǐng)域依然可以取得顯著成效。

充分發(fā)揮X射線成像技術(shù)的性能優(yōu)勢(shì)，不但有助于常規(guī)的材料科學(xué)研究，而且在全元素掃描研究和分析中，備受信賴的Micro CT對(duì)于提高分析水平同樣起到了決定性作用。正是因?yàn)槿绱嗣黠@的技術(shù)優(yōu)勢(shì)得到了充分利用，才會(huì)在不同應(yīng)用領(lǐng)域取得事半功倍的顯著效果，既然如此在相關(guān)的行業(yè)領(lǐng)域持續(xù)拓寬應(yīng)用范圍也就尤為必要。

當(dāng)然，分析儀器的靈活性和易用性，同樣是電鏡工具能夠在研究分析工作中備受青睞的核心要素，這一點(diǎn)在SEM分析應(yīng)用中得到了直觀印證�？紤]到元素分析對(duì)即時(shí)定量的要求相對(duì)比較嚴(yán)苛，采用功能匹配的電鏡工具，便會(huì)對(duì)滿足即時(shí)定量的應(yīng)用需求起到很好的輔助作用，如此一來即便作為復(fù)雜技術(shù)，經(jīng)過系統(tǒng)學(xué)習(xí)也能夠游刃有余的熟練掌握。

由此作為參考不難看出，電鏡工具的實(shí)用價(jià)值已經(jīng)得到了充分肯定，至于材料科學(xué)研究之類的具體應(yīng)用，完全可以通過材料顯微鏡給予充分滿足。利用高性能電鏡工具妥善解決各類分析應(yīng)用難題，已經(jīng)在實(shí)踐應(yīng)用中成果顯赫，以此作為契機(jī)進(jìn)一步推進(jìn)電鏡工具的利用率提升，也就更容易取得超乎預(yù)期的成效。